X射線熒光 (XRF) 分析儀能夠?qū)腆w、粉末、液體等樣品進(jìn)行定性和定量分析，檢測范圍從Na-U，分析濃度從100％－亞ppm級(jí)。
具有高靈敏度、分析速度快、ppb級(jí)檢出限等特點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用于生態(tài)環(huán)境、食品安全、生物醫(yī)藥、材料科學(xué)、地球化學(xué)、科學(xué)研究等多個(gè)領(lǐng)域。
通過對(duì)粉末、單晶或多晶體等塊體材料等樣品進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息，是目前研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)最有力的方法。
測量鍍層厚度為什么如此重要？測量鍍層厚度可以幫您降低物料成本，響應(yīng)重要的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，并能維護(hù)您在行業(yè)中的聲譽(yù)。無論是在生產(chǎn)過程中的檢測還是對(duì)來料進(jìn)行檢驗(yàn)，都是如此。 浪聲鍍層分析儀系列致力于為您提供專業(yè)的涂鍍層分析解決方案，儀器具有手持式、便攜式、臺(tái)式等型號(hào)，可根據(jù)您的需求對(duì)光束尺寸、探測器、準(zhǔn)直器
在珠寶制造，黃金生產(chǎn)，首飾回收，貴金屬檢測機(jī)構(gòu)等領(lǐng)域中，精確的貴金屬分析對(duì)于確保產(chǎn)品質(zhì)量和提升經(jīng)濟(jì)效益至關(guān)重要。浪聲科學(xué)提供全面的貴金屬無損快速檢測解決方案，解決方案包括多種類型的精密分析儀器，如便攜式、手持式和臺(tái)式設(shè)備，以滿足不同場景的需求。
基于物聯(lián)網(wǎng)數(shù)據(jù)傳輸+大數(shù)據(jù)+信息化軟件,為客戶打造智能在線監(jiān)測解決方案，無需人員值守，輕松實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)連續(xù)檢測/監(jiān)測和遠(yuǎn)程監(jiān)控。
可對(duì)各種固態(tài)、液態(tài)、氣態(tài)物質(zhì)的分子組成、結(jié)構(gòu)及相對(duì)含量等進(jìn)行分析，實(shí)現(xiàn)對(duì)物質(zhì)的鑒別與定性，亦可與其他技術(shù)結(jié)合相互應(yīng)用，更高效地確定樣品的種類和結(jié)構(gòu)。
具有快速、原位分析的特點(diǎn)，適用于多種物質(zhì)狀態(tài)，包括固體、液體和氣體 ，如無需復(fù)雜樣品前處理、被廣泛應(yīng)用于金屬材料、礦石、材料科學(xué)、工業(yè)過程控制等領(lǐng)域 。
無論是材料缺陷分析、生物樣本形態(tài)觀察，還是納米尺度的精密測量，作為探索微觀世界的強(qiáng)大工具，SEM都能提供清晰的高分辨率圖像！相比于傳統(tǒng)的，新型SEM結(jié)合了EDS光學(xué)技術(shù)，既是科研探索的得力助手，也是工業(yè)應(yīng)用的優(yōu)選解決方案！
采用同步輻射級(jí)探測技術(shù)，可精準(zhǔn)解析材料中原子的局域配位環(huán)境與電子態(tài)結(jié)構(gòu)。該系列廣泛應(yīng)用于催化機(jī)理研究、電池材料表征、環(huán)境污染物形態(tài)分析等領(lǐng)域，為高校、科研院所及企業(yè)提供元素價(jià)態(tài)、鍵長、配位數(shù)等關(guān)鍵微觀信息，助力新材料研發(fā)與機(jī)理探索。
為客戶提供方便快捷、準(zhǔn)確可靠、數(shù)據(jù)穩(wěn)定性和重現(xiàn)性好的元素成分分析工具。
XRD技術(shù)主要用于對(duì)研究材料的物相鑒定和定量分析，點(diǎn)陣常數(shù)測定，晶粒大小，微觀應(yīng)力，殘余應(yīng)力分析及薄膜分析等。
在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中，金屬鍍層廣泛應(yīng)用于各種產(chǎn)品中，如電子元件、汽車零部件、機(jī)械設(shè)備等。而鍍層的厚度對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量和性能具有重要影響，可以通過鍍層厚度檢測儀進(jìn)行精確測量和分析，來幫助用戶保證產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。
蘇州浪聲科學(xué)儀器有限公司成立于2012年，一直致力于研究分析和工業(yè)儀器技術(shù)。伴隨著數(shù)十個(gè)重大創(chuàng)新，公司在以下領(lǐng)域愈加專業(yè)成熟，其中包括薄膜分析（XRF），X射線熒光光譜學(xué)(TXRF、EDXRF)，X射線衍射（XRD），X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜(XAFS)，拉曼光譜（RAMAN），掃描電鏡（SEM），激光誘導(dǎo)擊穿光譜（LIBS），X射線光學(xué)器件，實(shí)驗(yàn)室自動(dòng)化，X射線源。
公司充分利用多年積累的專業(yè)技術(shù)知識(shí)，堅(jiān)持以客戶為導(dǎo)向，不斷的創(chuàng)新，為客戶日益復(fù)雜化和多樣化的社會(huì)課題以及需求提供完全集成的分析解決方案。
